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dc.contributor.author莊景德en_US
dc.contributor.author周世傑en_US
dc.contributor.author黃威en_US
dc.contributor.author蔡銘謙en_US
dc.contributor.author林宜緯en_US
dc.contributor.author楊皓義en_US
dc.contributor.author杜明賢en_US
dc.contributor.author石維強en_US
dc.contributor.author連南鈞en_US
dc.contributor.author李坤地en_US
dc.date.accessioned2015-05-12T02:59:33Z-
dc.date.available2015-05-12T02:59:33Z-
dc.date.issued2015-05-01en_US
dc.identifier.govdocG11C011/413zh_TW
dc.identifier.govdocG11C029/12zh_TW
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/122786-
dc.description.abstract本發明係提供一種量測偏壓溫度效應之環形震盪器,其係由六電晶體架構組成之靜態隨機存取記憶體單元,包含有第一控制單元、第一反相單元、第二控制單元以及第二反相單元。第一控制單元係電連接第一反相單元,第一控制單元係用以控制第一反相單元動作,其中動作包含選擇、施加偏壓以及連接。第二反相單元係電連接第一反相單元。以及第二控制單元係電連接第一控制單元與第一反相單元之間。第二控制單元係用以控制第二反相單元動作,其中動作包含選擇、施加偏壓以及連接。利用第一控制單元與第二控制單元之控制,以分別量測該靜態隨機存取記憶體單元之負偏壓溫度效應與正偏壓溫度效應,對靜態隨機存取記憶體單元穩定度之影響大小。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.title用以量測偏壓溫度效應之環形震盪器zh_TW
dc.typePatentsen_US
dc.citation.patentcountryTWNzh_TW
dc.citation.patentnumberI483251zh_TW
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