統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| Impact of the TiN barrier layer on the positive bias temperature instabilities of high-k/metal-gate field effect transistors | 13 |
本月總瀏覽
| 六月 2024 | 七月 2024 | 八月 2024 | 九月 2024 | 十月 2024 | 十一月 2024 | 十二月 2024 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Impact of the TiN barrier layer on the positive bias temperature instabilities of high-k/metal-gate field effect transistors | 1 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
檔案下載
| 檢視 |
|---|
國家瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| 美國 | 9 |
| 德國 | 1 |
| 日本 | 1 |
| 俄羅斯聯邦 | 1 |
縣市瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| Wilmington | 3 |
| Englewood | 2 |
| Menlo Park | 2 |
| Edmond | 1 |
| Osaka | 1 |
| Redmond | 1 |