統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| The Impact of Pre/Post-metal Deposition Annealing on Negative-Bias-Temperature Instability in HfO2 Stack p-Channel Metal-Oxide-Semiconductor Field Effect Transistors | 10 |
本月總瀏覽
| 六月 2025 | 七月 2025 | 八月 2025 | 九月 2025 | 十月 2025 | 十一月 2025 | 十二月 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| The Impact of Pre/Post-metal Deposition Annealing on Negative-Bias-Temperature Instability in HfO2 Stack p-Channel Metal-Oxide-Semiconductor Field Effect Transistors | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 1 |
檔案下載
| 檢視 |
|---|
國家瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| 美國 | 4 |
| 愛爾蘭 | 1 |
| 俄羅斯聯邦 | 1 |
縣市瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| Menlo Park | 2 |
| Buffalo | 1 |
| Kensington | 1 |