半導體-絕緣體-半導體(SIS)異質接面結構應用於光檢測器製備之研究

標題:	半導體-絕緣體-半導體(SIS)異質接面結構應用於光檢測器製備之研究 A Study of Semiconductor-Insulator-Semiconductor (SIS) Heterojunction Structure Applied to the Fabrication of Photodetectors
作者:	謝宗雍 HSIEH TSUNG-EONG 國立交通大學材料科學與工程學系（所）
公開日期:	2015
官方說明文件#:	MOST104-2221-E009-034-MY3
URI:	http://hdl.handle.net/11536/129987 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=11586381&docId=472785
顯示於類別：	研究計畫