低維度硫族合金之電遷移與擴散行為研究

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DC 欄位	值	語言
dc.contributor.author	謝宗雍	zh_TW
dc.contributor.author	HSIEH TSUNG-EONG	en_US
dc.date.accessioned	2016-03-28T08:17:51Z	-
dc.date.available	2016-03-28T08:17:51Z	-
dc.date.issued	2015	en_US
dc.identifier.govdoc	MOST103-2221-E009-057-MY2	zh_TW
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11536/130478	-
dc.identifier.uri	https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=11269234&docId=454691	en_US
dc.description.sponsorship	科技部	zh_TW
dc.language.iso	zh_TW	en_US
dc.title	低維度硫族合金之電遷移與擴散行為研究	zh_TW
dc.title	A Study of Electromigration and Diffusion Behaviors of Low-Dimensional Chalcogenides	en_US
dc.type	Plan	en_US
dc.contributor.department	國立交通大學材料科學與工程學系（所）	zh_TW
顯示於類別：	研究計畫