標題: | 試鏡架與試鏡架關鍵參數量測方法 |
作者: | 莊仁輝 林彥碩 謝易育 |
公開日期: | 1-一月-2016 |
摘要: | 一種試鏡架,包含試鏡架本體以及具幾何特徵之視覺不變性之至少一量測標的。試鏡架本體具有至少一關鍵參數。量測標的設置於試鏡架本體上,用以搭配一種量測方法,藉由攝相裝置紀錄下在試鏡架為使用者適用狀態時,量測標的之平面影像,並且藉由量測標的之平面影像推算出試鏡架之關鍵參數。 |
官方說明文件#: | G02C007/02 G01B011/24 G01M011/02 |
URI: | http://hdl.handle.net/11536/132237 |
專利國: | TWN |
專利號碼: | 201600900 |
顯示於類別: | 專利資料 |