標題: 試鏡架與試鏡架關鍵參數量測方法
作者: 莊仁輝
林彥碩
謝易育
公開日期: 1-一月-2016
摘要: 一種試鏡架,包含試鏡架本體以及具幾何特徵之視覺不變性之至少一量測標的。試鏡架本體具有至少一關鍵參數。量測標的設置於試鏡架本體上,用以搭配一種量測方法,藉由攝相裝置紀錄下在試鏡架為使用者適用狀態時,量測標的之平面影像,並且藉由量測標的之平面影像推算出試鏡架之關鍵參數。
官方說明文件#: G02C007/02
G01B011/24
G01M011/02
URI: http://hdl.handle.net/11536/132237
專利國: TWN
專利號碼: 201600900
顯示於類別:專利資料