統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| Electrical characteristic fluctuation of 16-nm-gate trapezoidal bulk FinFET devices with fixed top-fin width induced by random discrete dopants | 3 |
本月總瀏覽
| 六月 2025 | 七月 2025 | 八月 2025 | 九月 2025 | 十月 2025 | 十一月 2025 | 十二月 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Electrical characteristic fluctuation of 16-nm-gate trapezoidal bulk FinFET devices with fixed top-fin width induced by random discrete dopants | 0 | 1 | 0 | 1 | 0 | 1 | 0 |
檔案下載
| 檢視 | |
|---|---|
| 37da24d54e8f9c1e0d21ff488b7c22c0.pdf | 1 |
國家瀏覽排行
| 檢視 |
|---|
縣市瀏覽排行
| 檢視 |
|---|