統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| Abnormal positive bias stress instability of In-Ga-Zn-O thin-film transistors with low-temperature Al2O3 gate dielectric | 15 |
本月總瀏覽
| 八月 2025 | 九月 2025 | 十月 2025 | 十一月 2025 | 十二月 2025 | 一月 2026 | 二月 2026 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Abnormal positive bias stress instability of In-Ga-Zn-O thin-film transistors with low-temperature Al2O3 gate dielectric | 0 | 1 | 1 | 5 | 0 | 3 | 3 |
檔案下載
| 檢視 |
|---|
國家瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| 美國 | 9 |
| 日本 | 2 |
| 越南 | 1 |
縣市瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| Houston | 3 |
| Buffalo | 2 |
| Ann Arbor | 1 |
| Ashburn | 1 |
| Fairfield | 1 |
| Hanoi | 1 |
| Wilmington | 1 |