統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| Reliability of strained-channel NMOSFETs with SiN capping layer on Hi-wafers with a thin LPCVD-TEOS buffer layer | 1 |
本月總瀏覽
| 八月 2025 | 九月 2025 | 十月 2025 | 十一月 2025 | 十二月 2025 | 一月 2026 | 二月 2026 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Reliability of strained-channel NMOSFETs with SiN capping layer on Hi-wafers with a thin LPCVD-TEOS buffer layer | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 1 |
檔案下載
| 檢視 |
|---|
國家瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| 巴西 | 1 |
縣市瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| Vitória | 1 |