統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| Degradation of low-frequency noise in partially depleted silicon-on-insulator metal oxide semiconductor field-effect transistors by hot-carrier stress | 110 |
本月總瀏覽
| 六月 2025 | 七月 2025 | 八月 2025 | 九月 2025 | 十月 2025 | 十一月 2025 | 十二月 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Degradation of low-frequency noise in partially depleted silicon-on-insulator metal oxide semiconductor field-effect transistors by hot-carrier stress | 0 | 0 | 0 | 1 | 1 | 0 | 0 |
檔案下載
| 檢視 | |
|---|---|
| 000230126000038.pdf | 4 |
國家瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| 中國 | 98 |
| 美國 | 7 |
| 法國 | 1 |
| 愛爾蘭 | 1 |
| 日本 | 1 |
縣市瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| Shenzhen | 97 |
| Kensington | 5 |
| Menlo Park | 2 |
| Nanning | 1 |
| Paris | 1 |