統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| 利用碲為源層及增強阻障特性於氮化矽金屬導電橋接電阻式記憶體之可靠度優化研究 | 6 |
本月總瀏覽
| 六月 2025 | 七月 2025 | 八月 2025 | 九月 2025 | 十月 2025 | 十一月 2025 | 十二月 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 利用碲為源層及增強阻障特性於氮化矽金屬導電橋接電阻式記憶體之可靠度優化研究 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 | 0 | 0 |
檔案下載
| 檢視 |
|---|
國家瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| 美國 | 2 |
| 俄羅斯聯邦 | 1 |
縣市瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| Menlo Park | 2 |
| 檢視 | |
|---|---|
| 利用碲為源層及增強阻障特性於氮化矽金屬導電橋接電阻式記憶體之可靠度優化研究 | 6 |
| 六月 2025 | 七月 2025 | 八月 2025 | 九月 2025 | 十月 2025 | 十一月 2025 | 十二月 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 利用碲為源層及增強阻障特性於氮化矽金屬導電橋接電阻式記憶體之可靠度優化研究 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 | 0 | 0 |
| 檢視 |
|---|
| 檢視 | |
|---|---|
| 美國 | 2 |
| 俄羅斯聯邦 | 1 |
| 檢視 | |
|---|---|
| Menlo Park | 2 |