完整後設資料紀錄
DC 欄位語言
dc.contributor.author林進燈zh_TW
dc.contributor.author謝宗佑zh_TW
dc.contributor.author林洋印zh_TW
dc.date.accessioned2019-04-11T05:51:27Z-
dc.date.available2019-04-11T05:51:27Z-
dc.date.issued2017-03-01en_US
dc.identifier.govdocG06Q050/22en_US
dc.identifier.govdocG06F017/16en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/151335-
dc.description.abstract本發明係一種利用子空間產生取樣之方法,步驟包括將向量資料值投影至複數子空間,產生複數向量子空間資料值,並由其中擷取最接近向量資料值的向量子空間資料值為最佳向量子空間資料值,取其所屬之子空間的維度為基準維度,以利用梯度演算調整其餘子空間之維度,產生新子空間後再投影出新向量子空間資料值,再判斷新向量子空間資料值與向量資料值的差異值是否小於或等於一預設值,若是,新向量子空間資料值則成為取樣值,若否,則回覆至第一步驟。故,本發明可產生與原始資料相似的取樣資料。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.title利用子空間產生取樣之方法zh_TW
dc.typePatentsen_US
dc.citation.patentcountryTWNen_US
dc.citation.patentnumber201709137en_US
顯示於類別:專利資料


文件中的檔案:

  1. 201709137.pdf

若為 zip 檔案,請下載檔案解壓縮後,用瀏覽器開啟資料夾中的 index.html 瀏覽全文。