完整後設資料紀錄
DC 欄位語言
dc.contributor.author洪瑞華zh_TW
dc.contributor.author李彥助zh_TW
dc.contributor.author董俊沂zh_TW
dc.contributor.author蔡錫翰zh_TW
dc.contributor.author鄭力中zh_TW
dc.date.accessioned2019-04-11T06:20:44Z-
dc.date.available2019-04-11T06:20:44Z-
dc.date.issued2019-04-01en_US
dc.identifier.govdocH01L021/205en_US
dc.identifier.govdocC23C016/06en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/151530-
dc.description.abstract本發明為一種寬能隙氧化物磊晶薄膜之製造方法,其利用一氧化物磊晶薄膜形成於基板,使其具較佳之物理特性,例如:電子漂移飽和速度快,介電常數小,熱穩定性好,且耐高溫。此外,由於氧化物磊晶薄膜為採用一有機金屬化學氣相沉積製程,使得氧化物磊晶薄膜之良率大幅提高,並減少磊晶瑕疵。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.title寬能隙氧化物磊晶薄膜之製造方法zh_TW
dc.typePatentsen_US
dc.citation.patentcountryTWNen_US
dc.citation.patentnumber201913742en_US
顯示於類別:專利資料


文件中的檔案:

  1. 201913742.pdf

若為 zip 檔案,請下載檔案解壓縮後,用瀏覽器開啟資料夾中的 index.html 瀏覽全文。