統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| The Degradation of MILC P-Channel Poly-Si TFTs under Dynamic Hot-Carrier Stress Using a Novel Test Structure | 104 |
本月總瀏覽
| 五月 2024 | 六月 2024 | 七月 2024 | 八月 2024 | 九月 2024 | 十月 2024 | 十一月 2024 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| The Degradation of MILC P-Channel Poly-Si TFTs under Dynamic Hot-Carrier Stress Using a Novel Test Structure | 1 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
檔案下載
| 檢視 | |
|---|---|
| 000302650100055.pdf | 9 |
國家瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| 中國 | 98 |
| 美國 | 4 |
| 台灣 | 1 |
縣市瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| Shenzhen | 97 |
| Menlo Park | 4 |
| Jinan | 1 |