統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| Process- and Random-Dopant-Induced Characteristic Variability of SRAM with nano-CMOS and Bulk FinFET Devices | 107 |
本月總瀏覽
| 九月 2025 | 十月 2025 | 十一月 2025 | 十二月 2025 | 一月 2026 | 二月 2026 | 三月 2026 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Process- and Random-Dopant-Induced Characteristic Variability of SRAM with nano-CMOS and Bulk FinFET Devices | 1 | 0 | 0 | 1 | 0 | 2 | 1 |
檔案下載
| 檢視 |
|---|
國家瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| 中國 | 97 |
| 美國 | 5 |
縣市瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| Shenzhen | 96 |
| Edmond | 2 |
| Kensington | 1 |
| Menlo Park | 1 |
| Shanghai | 1 |
| Thousand Oaks | 1 |