統計資料

總造訪次數

檢視
Hole injection-reduced hot carrier degradation in n-channel metal-oxide-semiconductor field-effect-transistors with high-k gate dielectric 107

本月總瀏覽

檔案下載

檢視
000315596700079.pdf 103

國家瀏覽排行

檢視
中國 97
美國 9
愛爾蘭 1

縣市瀏覽排行

檢視
Shenzhen 96
Menlo Park 7
Kensington 2
Zhengzhou 1