統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| A new pre-etching pattern to determine < 110 > crystallographic orientation on both (100) and (110) silicon wafers | 104 |
本月總瀏覽
檔案下載
| 檢視 |
|---|
國家瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| 中國 | 95 |
| 美國 | 8 |
| 愛爾蘭 | 1 |
縣市瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| Shenzhen | 93 |
| Kensington | 4 |
| Menlo Park | 4 |
| Beijing | 1 |
| 檢視 | |
|---|---|
| A new pre-etching pattern to determine < 110 > crystallographic orientation on both (100) and (110) silicon wafers | 104 |
| 檢視 |
|---|
| 檢視 | |
|---|---|
| 中國 | 95 |
| 美國 | 8 |
| 愛爾蘭 | 1 |
| 檢視 | |
|---|---|
| Shenzhen | 93 |
| Kensington | 4 |
| Menlo Park | 4 |
| Beijing | 1 |