統計資料

總造訪次數

檢視
Investigation of abnormal negative threshold voltage shift under positive bias stress in input/output n-channel metal-oxide-semiconductor field-effect transistors with TiN/HfO2 structure using fast I-V measurement 113

本月總瀏覽

檔案下載

檢視
000333252300074.pdf 17

國家瀏覽排行

檢視
中國 95
美國 17
台灣 1

縣市瀏覽排行

檢視
Shenzhen 95
Kensington 12
Menlo Park 5
Hsinchu 1