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| Analysis of Ultra-Thin-Body SOI Subthreshold SRAM Considering Line-Edge Roughness, Work Function Variation, and Temperature Sensitivity | 121 |
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| Analysis of Ultra-Thin-Body SOI Subthreshold SRAM Considering Line-Edge Roughness, Work Function Variation, and Temperature Sensitivity | 3 | 3 | 2 | 1 | 2 |
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