統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| The Understanding of Strain-Induced Device Degradation in Advanced MOSFETs with Process-Induced Strain Technology of 65nm Node and Beyond | 109 |
本月總瀏覽
檔案下載
| 檢視 | |
|---|---|
| 000287515600185.pdf | 4 |
國家瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| 中國 | 95 |
| 美國 | 10 |
| 台灣 | 3 |
| 愛爾蘭 | 1 |
縣市瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| Shenzhen | 95 |
| Menlo Park | 10 |
| Taipei | 2 |