統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| TDDB reliability improvement of Cu damascene with a bilayer-structured alpha-SiC : H dielectric barrier | 111 |
本月總瀏覽
| 五月 2024 | 六月 2024 | 七月 2024 | 八月 2024 | 九月 2024 | 十月 2024 | 十一月 2024 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| TDDB reliability improvement of Cu damascene with a bilayer-structured alpha-SiC : H dielectric barrier | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 |
檔案下載
| 檢視 | |
|---|---|
| 000188182100052.pdf | 16 |
國家瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| 中國 | 95 |
| 美國 | 14 |
| 澳大利亞 | 1 |
| 愛爾蘭 | 1 |
縣市瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| Shenzhen | 95 |
| Kensington | 5 |
| Menlo Park | 5 |
| Edmond | 3 |
| Port Melbourne | 1 |
| Saint Robert | 1 |