統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| A method to characterize the dielectric and interfacial properties of metal-insulator-semiconductor structures by microwave measurement | 114 |
本月總瀏覽
| 六月 2025 | 七月 2025 | 八月 2025 | 九月 2025 | 十月 2025 | 十一月 2025 | 十二月 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| A method to characterize the dielectric and interfacial properties of metal-insulator-semiconductor structures by microwave measurement | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 |
檔案下載
| 檢視 | |
|---|---|
| 000174666600080.pdf | 15 |
國家瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| 中國 | 95 |
| 美國 | 13 |
| 印度 | 3 |
| 英國 | 2 |
縣市瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| Shenzhen | 93 |
| Kensington | 6 |
| Menlo Park | 5 |
| Beijing | 2 |
| Sheffield | 2 |
| Edmond | 1 |
| Mumbai | 1 |