統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| Characterization and reliability of low dielectric constant fluorosilicate glass and silicon rich oxide process for deep sub-micron device application | 120 |
本月總瀏覽
檔案下載
| 檢視 | |
|---|---|
| 000172906200091.pdf | 48 |
國家瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| 中國 | 94 |
| 美國 | 22 |
| 台灣 | 3 |
| 德國 | 1 |
縣市瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| Shenzhen | 93 |
| Menlo Park | 14 |
| Kensington | 4 |
| Edmond | 3 |
| Taipei | 2 |
| Beijing | 1 |
| Neubiberg | 1 |
| University Park | 1 |