統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| Gate oxide integrity of thermal oxide grown on high temperature formed Si0.3Ge0.7 | 115 |
本月總瀏覽
| 六月 2024 | 七月 2024 | 八月 2024 | 九月 2024 | 十月 2024 | 十一月 2024 | 十二月 2024 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Gate oxide integrity of thermal oxide grown on high temperature formed Si0.3Ge0.7 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 2 |
檔案下載
| 檢視 | |
|---|---|
| 000085620800007.pdf | 8 |
國家瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| 中國 | 97 |
| 美國 | 15 |
| 巴西 | 1 |
| 愛爾蘭 | 1 |
縣市瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| Shenzhen | 96 |
| Menlo Park | 8 |
| Kensington | 7 |
| Beijing | 1 |