統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| New insight into the degradation mechanism of nitride spacer with different post-oxide in submicron LDD n-MOSFET's | 119 |
本月總瀏覽
| 六月 2025 | 七月 2025 | 八月 2025 | 九月 2025 | 十月 2025 | 十一月 2025 | 十二月 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| New insight into the degradation mechanism of nitride spacer with different post-oxide in submicron LDD n-MOSFET's | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 2 | 0 |
檔案下載
| 檢視 | |
|---|---|
| 000073664900002.pdf | 3 |
國家瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| 中國 | 98 |
| 美國 | 16 |
| 台灣 | 4 |
| 英國 | 1 |
縣市瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| Shenzhen | 95 |
| Kensington | 7 |
| Menlo Park | 6 |
| Taipei | 4 |
| Buffalo | 2 |
| Zhengzhou | 2 |
| Changshahsien | 1 |
| Cranfield | 1 |
| Edmond | 1 |