完整後設資料紀錄
DC 欄位 | 值 | 語言 |
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dc.contributor.author | 王建鎮 | en_US |
dc.contributor.author | Wang, Jian-Zhen | en_US |
dc.contributor.author | 李崇仁 | en_US |
dc.contributor.author | 沈文仁 | en_US |
dc.contributor.author | Li, Chong-Ren | en_US |
dc.contributor.author | Shen, Wen-Ren | en_US |
dc.date.accessioned | 2014-12-12T02:02:49Z | - |
dc.date.available | 2014-12-12T02:02:49Z | - |
dc.date.issued | 1983 | en_US |
dc.identifier.uri | http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT724430011 | en_US |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11536/51848 | - |
dc.description.abstract | 本論文中將介紹一個新的程式。它同時具有二種功能,除了能將電晶體電路轉換成以 邏輯閘及傳輸閘表示的邏輯電路外,胼能檢驗出電路中違反電氣規則的錯誤。 此程式適用於金氧半超大型積體電路。在做邏輯電路尋取時,它能夠辨認以下幾種邏 輯閘:反閘、及閘、或閘、各種緩衝器、輸出推動器以及各種複雜的組合邏輯閘。在 電氣規則檢驗中,它能夠偵測出下列各種錯誤:接觸點漏接、電晶體漏接、電晶體連 接錯誤、電源短路、節點浮接、節點永遠高電位(或低電位)、無輸入或輸出訊號之 邏輯閘、電壓降超過臨界電壓及電晶體通道寬道和長度比值不正確等等錯誤。 此程式可產生兩種不同型式的輸出。其中一種是以布林方程式表示,可似供邏輯模擬 使用;另一種則可供金氧半場效電晶體時序模擬器使用,以便驗證電路的時序是否正 確。 本程式是以C語言寫成,目前已建於VAX11-780/UNIX作業系統下。它除了適用於N型 金氧半電路外,也可應用於互補式金氧半電路中。根據實驗結果,處理一個含四萬個 電晶體的電路,只需要七分鐘左右。由此可見此程式是一個高文章的計算機輔助設計 工具。 | zh_TW |
dc.language.iso | zh_TW | en_US |
dc.subject | 金氧半場效電晶體 | zh_TW |
dc.subject | 電晶體 | zh_TW |
dc.subject | 超大型積體電路 | zh_TW |
dc.subject | 積體電路 | zh_TW |
dc.subject | 邏輯 | zh_TW |
dc.subject | 尋取 | zh_TW |
dc.subject | 電氣 | zh_TW |
dc.subject | 電子工程 | zh_TW |
dc.subject | VLSI | en_US |
dc.subject | ELECTRONIC-ENGINEERING | en_US |
dc.title | 適用於金氧半超大型積體電路中邏輯尋取與電氣規則檢驗之新方法 | zh_TW |
dc.type | Thesis | en_US |
dc.contributor.department | 電子研究所 | zh_TW |
顯示於類別: | 畢業論文 |