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dc.contributor.author陸光榮en_US
dc.contributor.authorLU, GUANG-RONGen_US
dc.contributor.author陳稔en_US
dc.contributor.authorCHEN, RENen_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:02:57Z-
dc.date.available2014-12-12T02:02:57Z-
dc.date.issued1984en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT732241015en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/51963-
dc.description.abstract本篇論文以邊值為基礎,提出一套方蹤式的線狀特徵擷取法,此擷取法適用於各種不 同的幾何外形,如迴路、分叉線等。利用擷取所得之線狀特徵建立模式,取得充裕的 資料來做局部比對。經由實驗證明本論文的做法確實可行。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject線狀特徵zh_TW
dc.subject擷取zh_TW
dc.subject邊值zh_TW
dc.subject幾何外形zh_TW
dc.subject相似zh_TW
dc.title線狀特徵擷取與模式基礎之局部相似性測度zh_TW
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department資訊科學與工程研究所zh_TW
顯示於類別:畢業論文