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dc.contributor.author林于智en_US
dc.contributor.authorLIN, YU-ZHIen_US
dc.contributor.author蘇德欽en_US
dc.contributor.authorSU, DE-GINen_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:04:12Z-
dc.date.available2014-12-12T02:04:12Z-
dc.date.issued1986en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT752123004en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/52782-
dc.description.abstract在非球面測量上,很少有簡便的零次試驗方法來求得鏡面的形狀誤差。所以本文在不 用標準非球面的情形下,使用共光徑的波域片干涉儀,並以波的共軛理論與全像原理 來設計改良型波域片,產生特殊波的前來符合待測面。 本文中將以傅利葉光學的繞射理論來解釋波域的繞射特性、以及波域片干涉儀的干涉 原理。對於零次試驗,則以全像原理為基礎,用幾何光學的方法來推算改良型波域片 應有的條紋分佈,其次論及波域片與誤差影響,最後以實際的干涉結果來評估本方法 的實用性。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject波域片干涉儀zh_TW
dc.subject非球面zh_TW
dc.subject零次試驗zh_TW
dc.subject共軛理論zh_TW
dc.subject全像原理zh_TW
dc.subject傅利葉光學zh_TW
dc.subject繞射理論zh_TW
dc.subjectWAVE-DOMAIN-SHEET-INTERFEROMETen_US
dc.subjectZERO-TESTen_US
dc.subjectCONJUGATE-THEORYen_US
dc.subjectFULL-IMAGE-PRINCIPLEen_US
dc.subjectFOURIER-OPTICSen_US
dc.subjectDIFFRACTION-THEORYen_US
dc.title以改良型波域片干涉儀測量非球面zh_TW
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department光電工程學系zh_TW
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