雷射掃瞄系統與f@透鏡設計

Abstract

雷射掃瞄是一門相當新顈穎且發展迅速的技術，由於雷射光束的廣泛使用及其獨特的 優點，目前已經發展出許多不同的應用。 在本論文中，我們首先對雷私掃瞄的光學系統作一詳細的描述，包括其工作特性及一 些設計上基本的考慮。再者，對其所引用的光學設計原理簡單的說明。最後，針對兩 個不同的專案（精密測量及雷射印表機）進行詳細的研究與討論。 整個論文的核心在於探討掃瞄光學系統中掃瞄透鏡（即所謂的f －＠ 透鏡）的設計 ，此透鏡在整個系統中所扮演相當重要的角色，其主要的特性是在焦平面上掃瞄點的 位置（y'）與入射偏轉光束的角度（＠）之間成線性關係，也就是說希望達到線性掃 瞄的目的（y'＝ f＠，其中f 是透鏡的焦距）。在論文中，透過不斷的研討，我們希 望設計出能夠以最少的元件，最低的成本而且達到系統品質要求的透鏡。