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dc.contributor.author翟駿逸en_US
dc.contributor.authorZHE, JUN-YIen_US
dc.contributor.author吳慶源en_US
dc.contributor.authorWU, GING-YUANen_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:04:27Z-
dc.date.available2014-12-12T02:04:27Z-
dc.date.issued1986en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT752430048en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/52950-
dc.description.abstract在這篇論文中,我們討論了異型離子佈植加強型電晶體的臨界電壓和臨界電壓以上的 電流特性。由於此種電晶體目前廣泛應用於超大型積體電路互補式電晶體中的P 型電 晶體。因此,我們選了一組不同通道長度的此型電晶體進行測試,並將所測得的值與 模型的計算值來比較,證實我們所發展的臨界電壓與電流模型足以應用於電腦輔助的 電路模擬。此外,我們也討論了另一種定義臨界電壓的方法。由此可得出一些不正常 的短通道電晶體效應。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject超大型積體電路zh_TW
dc.subject短通道zh_TW
dc.subject異型離子zh_TW
dc.subject佈植電晶體zh_TW
dc.subject臨界電壓zh_TW
dc.subject電壓特性zh_TW
dc.subject互補式電晶體zh_TW
dc.title超大型積體電路中短通道異型離子佈植場效電晶體zh_TW
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department電子研究所zh_TW
顯示於類別:畢業論文