Full metadata record
DC Field | Value | Language |
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dc.contributor.author | 陳明先 | en_US |
dc.contributor.author | CHEN, MING-XIAN | en_US |
dc.contributor.author | 楊聲震 | en_US |
dc.contributor.author | YANG, SHENG-ZHEN | en_US |
dc.date.accessioned | 2014-12-12T02:05:21Z | - |
dc.date.available | 2014-12-12T02:05:21Z | - |
dc.date.issued | 1988 | en_US |
dc.identifier.uri | http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT772123002 | en_US |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11536/53651 | - |
dc.description.abstract | 本文主要係對N 型材料的過剩載子生命期與ambipolar mobility作研究。使用N 型材 料製成的紅外線光導偵檢器在不同反應波長的He-Ne 雷射(3.39,0.6328 )照射下,及在不同的工作溫度(50°K∼200°K)與背景強度之下測量N 型 材料的過剩載子生命期。同時利用在高電場的作用下光導偵檢器會發生SWEEP-OUT 效 應,藉此效應的發生可找出在不同背景強度之下N 型材料的ambipolar mobility。 在本文中同時也介紹一種由N 型材料製成的紅外線光導偵檢器-SPRITE,並且簡單地 建立SPRITE偵檢器的光點掃描工作模式;在時間域及頻率域上作訊號的定性分析。利 用此光點掃描工作模式也可估計出N 型材料的ambipolar mobility。 我們使用了波長0.6328及3.39He-Ne雷射測量N 型材料的過剩載子生命期 τ,同時也在不同的工作溫度及不同的背景強度之下測量N 型材料的τ。由實驗結果 知 N型材料的生命期主要仍是受Auger 結合機構的影響。而在不同的背景強度之下, N 型材料的生命期亦會改變。當視野角越小,背景強度越弱時,生命期越長。此結果 與理論計算值及Mullard Co. 的結果相當一致。 | zh_TW |
dc.language.iso | zh_TW | en_US |
dc.subject | 生命期 | zh_TW |
dc.subject | 紅外線光導偵檢器 | zh_TW |
dc.subject | 訊號分析 | zh_TW |
dc.subject | 效應 | zh_TW |
dc.subject | 定性分析 | zh_TW |
dc.subject | 光點掃描 | zh_TW |
dc.subject | N-HG0-8CD0-8TE | en_US |
dc.subject | AMBIPOLSR-MOBILITY | en_US |
dc.subject | SPRITE | en_US |
dc.subject | SWEEP-OUT | en_US |
dc.title | N型GH0.8CD0.2TE材料生命期與AMBIPOLAR─MOBILITY的測量及SPRITE偵檢器的訊號分析 | zh_TW |
dc.type | Thesis | en_US |
dc.contributor.department | 光電工程學系 | zh_TW |
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