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dc.contributor.author桑競存en_US
dc.contributor.authorSHANG, JING-CUNen_US
dc.contributor.author陸懋宏en_US
dc.contributor.authorLU, MAO-HONGen_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:05:23Z-
dc.date.available2014-12-12T02:05:23Z-
dc.date.issued1988en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT772123032en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/53685-
dc.description.abstract本篇論文以LIF方法測量並分析了651條NaRb分子於B□□→X□□□二電 子態間躍遷譜線,且完全由實驗得到NaRb分子X□Σ□及B□□二電子態的振動 常數和轉動常數。以這些分子常數,計算出譜線強度分佈,與實驗所得之強度分佈相 當一致。同時也利用不同的B□□電子態之轉動常數,分別算出對應的譜線強度分佈 ,與實驗所得譜線強度分佈比較。 最後,於實驗結果中發現,轉動量子數J與譜線強度分佈有關,因此,本篇論文亦以 不同的轉動量子數,計算強度分佈,所得結果與實驗相符。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subjectNARB分子zh_TW
dc.subject光譜常數zh_TW
dc.subject間躍遷譜線zh_TW
dc.subject譜線強度zh_TW
dc.subjectLIF 方法zh_TW
dc.subject量子數zh_TW
dc.titleNARB分子光譜常數之測定zh_TW
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department光電工程學系zh_TW
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