Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | 桑競存 | en_US |
dc.contributor.author | SHANG, JING-CUN | en_US |
dc.contributor.author | 陸懋宏 | en_US |
dc.contributor.author | LU, MAO-HONG | en_US |
dc.date.accessioned | 2014-12-12T02:05:23Z | - |
dc.date.available | 2014-12-12T02:05:23Z | - |
dc.date.issued | 1988 | en_US |
dc.identifier.uri | http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT772123032 | en_US |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11536/53685 | - |
dc.description.abstract | 本篇論文以LIF方法測量並分析了651條NaRb分子於B□□→X□□□二電 子態間躍遷譜線,且完全由實驗得到NaRb分子X□Σ□及B□□二電子態的振動 常數和轉動常數。以這些分子常數,計算出譜線強度分佈,與實驗所得之強度分佈相 當一致。同時也利用不同的B□□電子態之轉動常數,分別算出對應的譜線強度分佈 ,與實驗所得譜線強度分佈比較。 最後,於實驗結果中發現,轉動量子數J與譜線強度分佈有關,因此,本篇論文亦以 不同的轉動量子數,計算強度分佈,所得結果與實驗相符。 | zh_TW |
dc.language.iso | zh_TW | en_US |
dc.subject | NARB分子 | zh_TW |
dc.subject | 光譜常數 | zh_TW |
dc.subject | 間躍遷譜線 | zh_TW |
dc.subject | 譜線強度 | zh_TW |
dc.subject | LIF 方法 | zh_TW |
dc.subject | 量子數 | zh_TW |
dc.title | NARB分子光譜常數之測定 | zh_TW |
dc.type | Thesis | en_US |
dc.contributor.department | 光電工程學系 | zh_TW |
Appears in Collections: | Thesis |