標題: | 利用物體表面二維水平橫切面資料做語法式三維物體檢驗 |
作者: | 郭永成 GUO, YONG-CHENG 蔡文祥 CAI, WEN-XIANG 資訊科學與工程研究所 |
關鍵字: | 水平橫切面;語法式;特徵字元串;比對法則;精確性;二維;三維 |
公開日期: | 1988 |
摘要: | 本論文提出一以語法式分析作三維物體檢驗的方法。物體的三維表面資料乃是以其二 維水平橫切面之集合為代表。每一橫切面再轉換成一特徵字元串,其中,各字元所代 表的是一固定長度的段落,而該曲段之方向則用以作為其特徵,然後再利用特徵字元 串比對法則來計算兩個字元串彼此間的相似程度,同時並偵測該切面是否有局部缺陷 ,無局部缺陷的切面再檢查其整體精確性,最後,各切面之相似程度再合計以計算整 個物體的完好性,實驗結果證門此方法確實可行。 |
URI: | http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT772394095 http://hdl.handle.net/11536/53853 |
顯示於類別: | 畢業論文 |