完整後設資料紀錄
DC 欄位 | 值 | 語言 |
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dc.contributor.author | 陳德芳 | en_US |
dc.contributor.author | CHEN, DE-FANG | en_US |
dc.contributor.author | 張國明 | en_US |
dc.contributor.author | 張俊彥 | en_US |
dc.contributor.author | ZHANG, GUO -MING | en_US |
dc.contributor.author | ZHANG, JUN-YAN | en_US |
dc.date.accessioned | 2014-12-12T02:05:44Z | - |
dc.date.available | 2014-12-12T02:05:44Z | - |
dc.date.issued | 1988 | en_US |
dc.identifier.uri | http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT772430018 | en_US |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11536/53882 | - |
dc.description.abstract | 本論文已成功地發展三種數值模式,來探討二維電子雲場效電晶體(TEGFET) 的量子效應:三維古典波茲曼模式(3-D classical Boltzma nn model)、三維古典費米一狄拉模式3-d classical Fe rmi-Dirac model)和二維量子模式(2-D quantum m echanical model)。前兩種古典模式僅探討帕森方程式(Pois son′s equation);第三種量子模式加入薛丁格方程式(Schro dinger′s equstion),更準確描述電子的量子現象。在第三種數 值模式中,我們包含自建量子二維次帶、帕森方程式之數值解與空間電荷。于自建數 值解過程中,我們又特別考慮以下四點:1•較大能隙層之電子次帶、較高電子次帶 能階、三維電洞和交換電位(exchange-correlation pot ential)。我們所採用的數值方法為有限差分邊界值法,此法可穩定快速得到 我們所需要數值解。對於解出薛丁格方程式中之特徵能階,則是使用Sturm序列 法求得。 基於此種準確數值模式,我們對於傳統的單異質接面與雙異質接面的兩種結構之二維 電子雲場效電晶體,加以分析和比較。根據計算結果顯示,古典近似解高估了電子濃 度。某種情況下,三維古典波茲曼模式的結果,其誤差可達百分之三十以上。另外雙 異質結構之元件可增加電子濃度,改善互導、截止頻率與二維電子雲有效平均距離等 特性。此外,本研究中朼考慮隔層的厚度、殘留受體濃度和溫度等對元件特性之影響 。 最後,從一個元件模擬模式觀點,我們可以有效的設計和分析單質接面與雙異質接面 二維電子雲場效電晶體,于積體電路中得到最佳化元件效益。 | zh_TW |
dc.language.iso | zh_TW | en_US |
dc.subject | 電子 | zh_TW |
dc.subject | 電晶體 | zh_TW |
dc.subject | 模擬 | zh_TW |
dc.subject | 電子雲場效電晶體 | zh_TW |
dc.subject | 帕森方程式 | zh_TW |
dc.subject | 薛丁格方程式 | zh_TW |
dc.subject | 量子現象 | zh_TW |
dc.subject | 交換電位 | zh_TW |
dc.subject | ELETRONICS | en_US |
dc.subject | TRANSISTOR | en_US |
dc.subject | MODEL | en_US |
dc.subject | TEGFET | en_US |
dc.subject | POISSON'S-EQUATION | en_US |
dc.subject | SCHRODINGER'S-EQUATION | en_US |
dc.subject | CXCHANGE-CORRELATION-POTENTIAL | en_US |
dc.title | 二維電子雲場效電晶體的分析與模擬 | zh_TW |
dc.type | Thesis | en_US |
dc.contributor.department | 電子研究所 | zh_TW |
顯示於類別: | 畢業論文 |