以單極性函數理論推導功能測試及可測試性設計

Abstract

近年來，由於超大型積體電路製作技術之進步，吾人甚至可在一積體電路上製作出數 百萬個電晶體，這使得其元件數及邏輯變得既龐大又複雜；同時，亦使得積體電路的 測試問題也變得十分複雜且困難。另一方面，雖然積體電路內部十分複雜，但其輸出 入端的變量卻未因此而變的很大；在此情況下，功能測試便是一個十分簡便而有效的 解決方法。 本論文基於單極性函數理論及測試法：對於任一函數，吾人可為其產生一通用性測試 集合，無論如何設計製作此函數，此集合均能測其所有的定值故障。文中，首先推導 出一種新的方法來求通用性測試集合，而此法較原法節省許多的計算時間以及計憶體 ；這使得單極性函數測試法變得很實際且很有用。其次，利用所謂〝良好功能測試集 合〞演算法：減少小部份的故障覆蓋率而換取測試集合縮小許多；吾人修改此演算法 ，使其所得之集合少去很多的重複性的測試圖樣，同時也節省不少計算時間。此外， 更提出一種新的演算法，此法所產生之測試圖樣集合中完全沒有重複性的測試圖樣存 在，使得測試集合更小且更有效率。 最後，藉由前面吾人所推導之功能測試技巧，能為可測試性設計定義出一些設計法則 ，使得若設計者依照這些法則設計電路，則其所需之測試集合變得較小；同時，亦提 出一個演算法替吾人自動執行可測試性設計並連帶為所求得之電路產生測試集合。