低額外的電路虛擬全程可測試可程式邏輯陣列設計

Abstract

要測試一個面積大、輸入多的可程式邏輯陣列(PLA),自動測試是個很好的方法。虛擬 全程可測試(Pseudo Exhaustive Testable,PET)的PLA 是目前具有自動測試功能的PL A 中, 所需額外電路及測試向量最少的一種。PET 的精神是將輸入及積項都加以切割 分組。當積項分組時,PET只考慮或(OR)平面的狀況, 規定同組中每條輸出線頂多只能 有一個電晶體。在本論文中, 我們提出一個改良的PET(LOPET)方法來對積項分組。由 於我們同時考慮及(AND) 平面與或平面, 原來的或平面規則被放寬或允許輸出線擁有 一個以上的電晶體, 不過須對及平面上的情況加上某些限制。LOPET 使得積項的組數 減少, 也就是說額外電路以及測試向量都隨之減少。我們已經證明LOPET 可以偵測到 所有單一的交錯點(crosspoint)故障、線固結(stuckat) 故障、及跨線(bridging)故 障。事實上,PET所能偵測到的故障,LOPET也都能偵測到。根據LOPET 的法則, 我們發 展出一系列的演算法, 來對積項分組, 想儘量使組數減少。首先是正向搜尋法, 其次 我們采用新的邏輯化簡方法, 使積項間的漢明(Hamming) 距離增加, 發現也可使組數 降低。最后我們采用逆向搜尋法以及反覆的逆向搜尋法, 以達到最好的成果。將這些 演算方法用在三十個樣本例子上, 發現總共積項的組數由PET 的1510組變成918 組, 減少率約39%,測試向量由88162 個變成59398 個, 減少率約34%。LOPET所須的程式都 已在SUN 工作站的UNIX系統上用C 語言開發完成。