階層式測試圖樣產生方法

Abstract

本論文的主旨在於將功能測試的觀念應用到階層式測試圖樣產生方法上, 而吾人研究 的主體可大致上分為三大類: 一為快速求取適用性測試集合(UTS) 的方法, 一為找出 適用性的公式來求出臨界立方(critical cubes), 最后則是將前二者所得的資訊應用 到階層式測試圖樣產生方法上。 首先, 吾人推導出一些定理來幫助我們快速地找出適用性測試集合。此種方法是從布 林函數上, 對於那些未設定值的變數, 給予適當的數值, 然後將我們所得的有向量加 以比較, 去除不需要者, 則可以得到適用性測試集合。這種方法可以省去許多運算的 時間, 而舊式的方法卻需要花相當多的時間去比較真值表中的所有向量, 而其中有極 多的時間是浪費掉的。新的方法的最大優點在於吾人只去比較那些真正需要作比較的 輸入向量。 其次, 吾人推導出一些適用性的公式來求得臨界立方。臨界立方的用處在於當有錯誤 出現在函數的輸入端時, 如何去設定其他輸入端的數值, 使得錯誤可以出現在函數的 輸出端。基於這個概念, 吾人將臨界立方的資訊應用到測試圖樣產生過程中的錯誤傳 送。尤其對於階層式的錯誤傳送更是一種非常有用的資訊。 最後, 吾人將前面所提到的二種資訊應用到階層式測試圖樣產生方法上。由於這些資 料的有效運用, 測試圖樣產生所需的時間可以做有效率的減少, 而且也使得線路的複 雜度減低。這可以算是在傳統式的測試圖樣產生方法中的一種突破。