完整後設資料紀錄
DC 欄位 | 值 | 語言 |
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dc.contributor.author | 許登泰 | en_US |
dc.contributor.author | Xu, Deng-Tai | en_US |
dc.contributor.author | 葉清發 | en_US |
dc.contributor.author | Ye, Qing-Fa | en_US |
dc.date.accessioned | 2014-12-12T02:07:50Z | - |
dc.date.available | 2014-12-12T02:07:50Z | - |
dc.date.issued | 1989 | en_US |
dc.identifier.uri | http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT784430005 | en_US |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11536/55060 | - |
dc.description.abstract | 高功率半導體元件的應用十分廣泛, 舉凡辦公事務機器自動化、家電產品自動化等方 面的應用, 都是深具發展潛力的廣大市場。為了提高此類半導體產品的功能多樣化、 信賴度及附加價值, 須將傳統的邏輯控制電路與高功率元件相結合, 在同一矽晶方上 積體化制造。即所謂高功率積體電路, 是今後技術研究發展的主流之一。 功率元件一般可分成功率BJTs和功率MOSFETs 兩種。其中功率MOSFETs 系電壓控制元 件, 其驅動電路較電流控制的功率BJTs簡單, 較適用於高功率積體電路。其中以橫向 截止式功率MOSFETs 最簡單能夠和傳統邏輯電路制程相結合, 所以可被選用為高功率 積體電路中的功率元件。 本論文系研究有關可與CMOS制程相容的高電壓MOSFETs 。內容除了探討此類元件在設 計開發和制作上的一些考慮外, 并以一連串實驗來有系統地檢討此類元件的主要特性 及其在實際應用上所受的限制。同時, 為求能在設計制造此類元件之前得以預測其特 性, 本論文提出一SPICE 電路模型。配合實驗可有效預測元件的導通電阻, 且有效率 、有系統化的從事設計開發。一般僅在短通道nMOSFETs中才會發生的負電阻崩潰現象 , 由於高電壓MOSFETs 工作時承受高電壓, 也曾在高電壓nMOSFETs中被觀察到。由實 驗證明係寄生BJT's 效應。這種寄生BJT's 效應事實上嚴重影響高電壓MOSFETs 在實 際應用上所能承受的最大電壓。 | zh_TW |
dc.language.iso | zh_TW | en_US |
dc.subject | 高功率 | zh_TW |
dc.subject | 半導體 | zh_TW |
dc.subject | 與CMOS相容 | zh_TW |
dc.subject | 高電壓 | zh_TW |
dc.subject | 功率 | zh_TW |
dc.subject | 電子工程 | zh_TW |
dc.subject | MOSFET | en_US |
dc.subject | BJTS | en_US |
dc.subject | ELECTRONIC-ENGINEERING | en_US |
dc.title | 與CMOS相容的高電壓MOSFET | zh_TW |
dc.title | CMOS-compatible high-voltage MOSFETs | en_US |
dc.type | Thesis | en_US |
dc.contributor.department | 電子研究所 | zh_TW |
顯示於類別: | 畢業論文 |