完整後設資料紀錄
DC 欄位語言
dc.contributor.author許登泰en_US
dc.contributor.authorXu, Deng-Taien_US
dc.contributor.author葉清發en_US
dc.contributor.authorYe, Qing-Faen_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:07:50Z-
dc.date.available2014-12-12T02:07:50Z-
dc.date.issued1989en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT784430005en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/55060-
dc.description.abstract高功率半導體元件的應用十分廣泛, 舉凡辦公事務機器自動化、家電產品自動化等方 面的應用, 都是深具發展潛力的廣大市場。為了提高此類半導體產品的功能多樣化、 信賴度及附加價值, 須將傳統的邏輯控制電路與高功率元件相結合, 在同一矽晶方上 積體化制造。即所謂高功率積體電路, 是今後技術研究發展的主流之一。 功率元件一般可分成功率BJTs和功率MOSFETs 兩種。其中功率MOSFETs 系電壓控制元 件, 其驅動電路較電流控制的功率BJTs簡單, 較適用於高功率積體電路。其中以橫向 截止式功率MOSFETs 最簡單能夠和傳統邏輯電路制程相結合, 所以可被選用為高功率 積體電路中的功率元件。 本論文系研究有關可與CMOS制程相容的高電壓MOSFETs 。內容除了探討此類元件在設 計開發和制作上的一些考慮外, 并以一連串實驗來有系統地檢討此類元件的主要特性 及其在實際應用上所受的限制。同時, 為求能在設計制造此類元件之前得以預測其特 性, 本論文提出一SPICE 電路模型。配合實驗可有效預測元件的導通電阻, 且有效率 、有系統化的從事設計開發。一般僅在短通道nMOSFETs中才會發生的負電阻崩潰現象 , 由於高電壓MOSFETs 工作時承受高電壓, 也曾在高電壓nMOSFETs中被觀察到。由實 驗證明係寄生BJT's 效應。這種寄生BJT's 效應事實上嚴重影響高電壓MOSFETs 在實 際應用上所能承受的最大電壓。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject高功率zh_TW
dc.subject半導體zh_TW
dc.subject與CMOS相容zh_TW
dc.subject高電壓zh_TW
dc.subject功率zh_TW
dc.subject電子工程zh_TW
dc.subjectMOSFETen_US
dc.subjectBJTSen_US
dc.subjectELECTRONIC-ENGINEERINGen_US
dc.title與CMOS相容的高電壓MOSFETzh_TW
dc.titleCMOS-compatible high-voltage MOSFETsen_US
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department電子研究所zh_TW
顯示於類別:畢業論文