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dc.contributor.author陳宗修en_US
dc.contributor.authorCHEN,ZONG-XIUen_US
dc.contributor.author戴久永en_US
dc.contributor.author巫木誠en_US
dc.contributor.authorDAI,JIU-YONGen_US
dc.contributor.authorWU,MU-CHENGen_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:08:05Z-
dc.date.available2014-12-12T02:08:05Z-
dc.date.issued1990en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT792030023en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/55144-
dc.description.abstract田口方法(Taguchi Method)是一種低成本、高效益的品質改善技術,此種方法的特色 在於利用直交表(Orthogonal Array)來做實驗設計的工作,以經濟地研究多個生產因 子對製程平均值及製程變異的影響;並且利用訊號雜音比(Signal-to-Noise Ratio) 來分析實驗數據,以決定製程因子的最佳水準組合,達到製程平均值集中於目標值附 近並具有最小變異的優良品質特性。 在以往田口方法的應用實例中,絕大部份是集中於單一品質特性最佳化的問題,對於 同一製程中同時有多種品質特性需最佳化的問題則較少提及。本篇研究提出一個經驗 式品質損失函數,再結合傳統的田口方法分析程序,藉以找出將多種品質特性同時最 佳化的因子水準組合,以求得所期望的產品品質特性。本研究並以表面黏著技術(SMT ; Surface Mounting Technology)的基板電子零件裝配製程,來驗證此製程最佳化技 術的有效性。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject品質損失函數zh_TW
dc.subject基板電子零件zh_TW
dc.subjectTAGUCHI-METHODen_US
dc.subjectORTHOGONAL-ARRAYen_US
dc.subjectSIGNAL-TO-NOISE-RATIOen_US
dc.subjectSURFACE-MOUNTING-TECHNOLOGYen_US
dc.title經驗式品質損失函數於多種品質特性最佳化問題之應用研究zh_TW
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department工業工程與管理學系zh_TW
顯示於類別:畢業論文