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dc.contributor.author游曉芸zh_TW
dc.contributor.authorYu, Hsiao-Yunen_US
dc.contributor.author謝文峰zh_TW
dc.contributor.author李明知zh_TW
dc.contributor.authorXie, Wen-Fengen_US
dc.contributor.authorLi, Ming-Zhien_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:08:29Z-
dc.date.available2014-12-12T02:08:29Z-
dc.date.issued1990en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT792429003en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/55320-
dc.description.abstract在這個實驗,我們使用單束光Z-掃描(Z-scan)的方法量出P30T薄膜在玻片上的光學克 爾係數(Optical Kerr Coefficient) n 的數值與正負符號。我們使用聚焦短脈衝序 列雷射(Focused Short Laser Pluse Train) (脈衝寬度大約50psec) 照射在薄膜上 ,使得雷射光束產生自聚焦(self-focusing) 或自去焦(self-defocusing) 現象,這 種自聚焦或自去焦的作用是由於與強度有關的折射率的變化而產生的。 因為P30T薄膜的作用宛如一個收斂 (收斂n >0 或發散n <0)透鏡,所以當薄膜從靠 返雷射這端 (經過最小的束腰) 向另一端移動時,在軸上的透射強度先減弱,然後增 強。在共振波長為532nm 時,我們量到n 大約為值-4.4×10 esu;在共振波長為10 64nm時,n 大約為+1.3×10 esu。 另外,此高分子薄膜對雷射所產生的熱非常靈敏,我們可以藉由拉曼光譜觀察到P30T 由於熱所產生的結構變化。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject共軛高分子zh_TW
dc.subject光學性質zh_TW
dc.subject單束光Z-掃描(Z-Szh_TW
dc.subject光學克爾係數zh_TW
dc.subject聚焦短脈衝序列雷zh_TW
dc.subjectP30T薄膜作用zh_TW
dc.subject雷射照射zh_TW
dc.subject拉曼光譜zh_TW
dc.subject(OPTICAL-KERR-COEFFICIENT)en_US
dc.subject(FOCUSED-SHORT-LASER-PLUSE-TRAen_US
dc.title共軛高分子的光學性質zh_TW
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department電子物理系所zh_TW
顯示於類別:畢業論文