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dc.contributor.author賴志誠en_US
dc.contributor.authorLAI, ZHI-CHENGen_US
dc.contributor.author郭義雄en_US
dc.contributor.author吳光雄en_US
dc.contributor.authorGUO, YI-XIONGen_US
dc.contributor.authorWU, GUANG-XIONGen_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:09:23Z-
dc.date.available2014-12-12T02:09:23Z-
dc.date.issued1991en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT802429008en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/56007-
dc.description.abstract雷射製備釔系高溫超導薄膜於已鍍YSZ 緩衝層 (buffer layer) 之矽(100) 基板上 之最佳蒸鍍條件已被有系統底研究。吾人發現YSZ 緩衝層可於真空條件中即時以雷 射蒸鍍於矽基板上,且高品質的釔系高溫超導薄膜在不須破壞真空條件下可隨後被 蒸鍍於其上。吾人現已成功底於 YSZ/Si (100) 上製備出超導臨界溫度為85K;臨界 電流密度在77K > 2.0×10□A/cm□,在20K > 2.0×10 A/cm□的釔系超導薄膜 ,其中YSZ 緩衝層於 830℃製成,其厚度約800 埃。緩衝層的厚度和其即時退火處 理是獲得高品質釔系超導薄膜的重要條件。薄膜拉曼(Raman) 光譜分析進一步指出 YBCO/YSZ/Si(100)易形成弱軸向 (weak-epitaxy) 成長,因此YSZ 緩衝層厚度的控 制和其結晶性質為獲得高品質釔系超導薄膜之必要條件。基板╱緩衝層和超導薄膜 ╱緩衝層的界面反應對超導薄膜的影響亦加以討論。zh_TW
dc.language.isoen_USen_US
dc.subject緩衝層zh_TW
dc.subject釔系zh_TW
dc.subject超導薄膜zh_TW
dc.subject結晶性zh_TW
dc.title利用準分子脈衝雷射蒸鍍法即時製備釔系高溫超導薄膜於鍍YSZ緩衝層之矽基板zh_TW
dc.titleIn-situ deposition of superconducting YBCO films on Si(100) with YSZ buffer layers by pulsed excimer laser ablationen_US
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department電子物理系所zh_TW
顯示於類別:畢業論文