統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| A comparison of plasma-induced damage on the reliability between high-k/metal-gate and SiO(2)/poly-gate complementary metal oxide semiconductor technology | 112 |
本月總瀏覽
檔案下載
| 檢視 |
|---|
國家瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| 中國 | 96 |
| 美國 | 11 |
| 德國 | 2 |
| 台灣 | 2 |
縣市瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| Shenzhen | 96 |
| Menlo Park | 7 |
| Edmond | 2 |
| Kensington | 2 |