标题: Studies on the PZT prepared from ZrTiO□
作者: 林文迪
LIN, WENDY
林鹏
LIN, PANG
材料科学与工程学系
关键字: 材料科学;物理;PZT;ZrTIO□;MATERIALS-SCIENCE;PHYSICS
公开日期: 1991
摘要: 在本研究中,以固态烧结来制备 PZT (53/47)。ZrO□, TiO□在 1000-1400℃□烧
4-5 个小时后发现 ZrTiO□可在1300℃下□烧4小时后形成。然后与PbO 混合,以
650℃-800℃ □烧4小时结果在 750℃可形成 PZT。以DTA 观察其反应约在 720℃
发生。以EDX 分析其PbO 与ZrO2+TiO2的成分比并与传统方式比较发现,此种方法
合成的 PZT,其PbO 损失较少。将压片后的PZT 以 1100-1300℃,2-6 小时,烧结
成形,以找出最佳的烧结条件,结果在1250℃-4小时,Kp可达0.57。量测其密度及
以SEM 观察其显微结构发现,Kp值主要是随晶粒尺寸而上升,却因孔隙度而下降;
由EDX 来分析孔隙附近及一般晶粒内PbO 含量发现,邻近孔隙附近的PbO 含量比在
一般晶粒内的PbO 含量有明显的降低,因而推断PbO 的挥发是造成孔隙度增加的一
个因素。
为了更进一步提高Kp值,我们以Nb□O□做作为添加剂。首先将Nb□O□与ZT及PbO
一起混合,以 750°□烧,1250℃ 烧结后发现,Kp 不但没有上升反而下降,若以
Nb□O□ 与 TiO□及 ZrO□一起混合,并以1300℃□烧4小时后,加入PbO □烧后
再以1250°烧结2-6 小时,在1250℃/2小时、1250℃/4小时可得最佳Kp值 0.6。猜
测前者之原因可能是Nb□□聚集在晶界上并形成 space charge field 而降低其极
化效率,导致Kp值下降。而后者则由Nb□□取代Ti□□并造成Pb位置的空缺,因而
得以松弛晶格因变形而造成的局部应力,使电域壁容易移动,Kp因而上升。
URI: http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT804058002
http://hdl.handle.net/11536/56403
显示于类别:Thesis