利用全反射受挫方法量測薄膜之光學常數

Abstract

本論文是利用全反射受挫（Attenuated Total Reflection）的技術，量測Kretschmann 組態下角度與反射率的關係（稱為ATR曲線），配合光學導納（Optical Admittance）的原理及簡形優化（Simplex Optimization）的方法，求出薄膜的光學常數－－折射率n、消光係數k、以及厚度d。本論文除了優化單一層金屬膜的光學常數之外，還在金屬膜上加附其他膜層，對加附膜層的光學常數進行優化。 本論文單層膜系統的金屬膜為銀和金，兩層膜系統的加附膜層有MgF2、□-(N-pyrrolyl) Nonanethiol、SC-lP。最後並對於優化出來的光學常數，做誤差的討論。