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dc.contributor.author曾鉉峰en_US
dc.contributor.authorHsuen-Feng Tsengen_US
dc.contributor.author孟心飛en_US
dc.contributor.authorHsin-Fei Mengen_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:20:11Z-
dc.date.available2014-12-12T02:20:11Z-
dc.date.issued1998en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT870198002en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/63953-
dc.description.abstract在本論文中,將藉由自我調適法,去計算基座為p型的金氧半電晶體在強反轉模式下的各能階,以及電子在各能階上的平均距離。隨著?度的不同,我們可以探討在不同?度下,以及不同的電子分佈,由這些結果可以去推想在有源極和汲極偏壓時,這些導通電子在薄反轉層中運動,電子在元件z方向的影響。本程式考慮其量子化的特性(準二維電子),用矩陣化的方式去得到以上的結果,同時也把電子間的交互作用考慮進去。 然後調整晶面,不同的晶面有不同的有效質量分佈,從而影響反轉層表面電荷厚度。最後再把不同材料加以計算比較,可以看到不同材料在相同的摻雜雜質數量下,有不同的表現。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject自我調適法zh_TW
dc.subject金氧半電晶體zh_TW
dc.subject準二維電子氣體zh_TW
dc.subject次能階zh_TW
dc.subjectself-consistenten_US
dc.subjectMOS(Metal Oxide Semiconductor)en_US
dc.subjectquasi-two dimensional electron gasen_US
dc.subjectsubbanden_US
dc.title用自我調適法對p型金氧半電晶體在強反轉模式下能階的計算zh_TW
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department物理研究所zh_TW
顯示於類別:畢業論文