統計資料

總造訪次數

檢視
研究及控制離子佈植產生缺陷所引發之異常擴散在0.13微米及以下元件設計上的應用 140

本月總瀏覽

九月 2025 十月 2025 十一月 2025 十二月 2025 一月 2026 二月 2026 三月 2026
研究及控制離子佈植產生缺陷所引發之異常擴散在0.13微米及以下元件設計上的應用 0 0 0 0 0 2 0

檔案下載

檢視

國家瀏覽排行

檢視
中國 100
美國 26
台灣 12
日本 1

縣市瀏覽排行

檢視
Shenzhen 95
Menlo Park 15
Kensington 7
Taipei 5
Beijing 3
Hsinchu 3
Kirksville 2
Xiamen 2
Dover 1
Edmond 1