液晶顯示器之原始資料驅動IC的測試―障礙涵蓋率之增加與早期故障率之降低

Abstract

在這篇論文中，我們提出藉由”增加原始資料驅動IC之障礙涵蓋率”與”降低其早期故障率”，來提升原始資料驅動IC之產品品質。我們首先研究原始資料驅動IC之線路設計，並對照其原有觀察的病徵，找出完整的全碼對角線測試圖樣，來取代高壓數位碼對角線測試圖樣，然後再依據原始資料驅動IC之實際電路佈局，找到IC中，並行排列之64*1多工器之最佳測試圖樣的向量組合及計算公式，此計算公式可以計算出多工器的最佳測試圖樣，共需要多少個測試向量。除此之外，我們提出利用高壓、高溫、全碼對角線測試圖樣、Isb量測的Stress可靠性加速測試方法，來快速篩選出具有微小障礙的原始資料驅動IC，達到降低早期故障率的目的。此外，我們再增加一個計算Stress前後之Isb差異(ΔIsb)的測試項，如此可以篩選出更多具有微小障礙的IC，將早期故障率降得更低。經由 ”增加障礙涵蓋率” 與 ”降低其早期故障率”，我們成功的讓產品達到更高的品質。