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dc.contributor.author杜丙章en_US
dc.contributor.authorBing_-Chung Tuen_US
dc.contributor.author曾俊元en_US
dc.contributor.authorTseung-Yuen Tsengen_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:51:48Z-
dc.date.available2014-12-12T02:51:48Z-
dc.date.issued2005en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#GT009311586en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/78059-
dc.description.abstract近來,由各種材料所研製的各類新式非揮發性記憶受到廣泛的注意。其中,電阻式記憶體由於具有雙穩態電阻值特性,可在同一偏壓下表現出兩種不同電阻值之特性,並且具有高寫入及讀取速度,非破壞性讀取,結構簡單(金屬—絕緣體—金屬之結構)的優點,將有助於達到高密度積體整合,低功率損失的目的。因此電阻式記憶體儼然成為下一世代非揮發性記憶體之候選人。 在本篇論文中,我們使用釩摻雜的鋯酸鍶(鈣鈦礦結構材料)來製作電阻式記憶體。首先,我們將介紹鈣鈦礦結構及基本的電流-電壓雙穩態電阻值轉換特徵。在實驗的部分,我們使用濺鍍法製造不同濃度釩摻雜的鋯酸鍶記憶體薄膜,並以鎳酸鑭作為底電極,鋁作為上電極來形成金屬—絕緣體—金屬的結構。然後將其物理及電學特性將於第三章報告。最後,我們也將歸納出元件的電流傳導機制,並探討不同濃度釩摻雜的影響對元件的影響。zh_TW
dc.language.isoen_USen_US
dc.subject電阻式記憶體zh_TW
dc.subject鋯酸鍶zh_TW
dc.subject電阻轉換zh_TW
dc.subjectRRAMen_US
dc.subjectSZOen_US
dc.subjectResistive Switchingen_US
dc.title釩摻雜鋯酸鍶記憶體薄膜之雙穩態電阻轉換特性zh_TW
dc.titleBistable Resistive Switching Properties of V2O5-doped SrZrO3 Memory Filmsen_US
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department電子研究所zh_TW
顯示於類別:畢業論文


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