Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | 洪健翔 | en_US |
dc.contributor.author | 田仲豪 | en_US |
dc.date.accessioned | 2014-12-12T02:54:12Z | - |
dc.date.available | 2014-12-12T02:54:12Z | - |
dc.date.issued | 2005 | en_US |
dc.identifier.uri | http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#GT009315509 | en_US |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11536/78594 | - |
dc.description.abstract | 微光機電系統中,在最後蝕刻犧牲層來使結構層懸浮的過程,一般來說會利用分部於結構層上的蝕刻孔來增加下方犧牲層的蝕刻率,而減少蝕刻劑對於結構上的過度蝕刻。然而,以一般周期性陣列分部的蝕刻孔在光學應用上會造成強烈的繞射場,高階的繞射光會造成雜訊及不預期的干擾。 本論文以費朗和夫繞射理論為基礎,建立了一套用來分析蝕刻孔陣列繞射之模型,並分析及討論在不同蝕刻孔分布下的繞射效應,期望藉由設計不同之蝕刻孔陣列來改變出光場型而減少不必要的繞射光束,甚至以蝕刻孔陣列達到系統需求的出射光場。最後利用自動組裝的面型微加工技術製作出微反射面鏡來驗證光學特性是否符合計算結果,量測結果與理論預期的相當接近,期望此提出之蝕刻孔排列設計在微光機電面型微加工的設計規則上可提供有用的改進。 | zh_TW |
dc.language.iso | en_US | en_US |
dc.subject | 微機電 | zh_TW |
dc.subject | 蝕刻孔 | zh_TW |
dc.subject | 繞射 | zh_TW |
dc.subject | MEMS | en_US |
dc.subject | etch holes | en_US |
dc.subject | diffraction | en_US |
dc.title | 自由空間微光機電元件蝕刻孔陣列之光學繞射分析 | zh_TW |
dc.title | Optical Diffraction of Etch-Holes Array on Free-Space Micro Optical Devices | en_US |
dc.type | Thesis | en_US |
dc.contributor.department | 顯示科技研究所 | zh_TW |
Appears in Collections: | Thesis |
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