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| 以表面電位顯微鏡觀測金屬-氧化層-半導體能帶 | 134 |
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| 以表面電位顯微鏡觀測金屬-氧化層-半導體能帶 | 6 | 0 | 0 | 1 | 0 | 2 | 2 |
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